數(shù)字電路和接口在越來越高的時鐘頻率下的表現(xiàn)非常類似于模擬電路。所以，為了確保新設計方案和重新設計的方案中接口的質(zhì)量，必須引入新的測量方法和測量設備。
當今車輛中的信息娛樂系統(tǒng)需要的功能，只有借助新型高速顯卡和超快內(nèi)存才能實現(xiàn)。我們所有的數(shù)字社交互動信息都經(jīng)由大型服務器記錄和處理，它們需要快速地從大功率存儲器中調(diào)取數(shù)據(jù)，并傳輸至各下級系統(tǒng)進行處理。
大量的圖像不斷被拍攝，并以高分辨率格式保存，它們在各種情況下被發(fā)往AI服務器;先進的算法可快速地處理數(shù)據(jù)，并輸出優(yōu)質(zhì)的結果。
一個典型的AI服務器與其他先進的計算機系統(tǒng)一樣：由一個主板和其他一些先進的組件構成，如：顯卡、硬盤和大量相連的交換機。所有這些設備的連接標準均基于PCI Express(PCIe)。
數(shù)字電路的挑戰(zhàn)
然而，處理更高的數(shù)據(jù)傳輸速率意味著電子系統(tǒng)的開發(fā)也需要一步步繼續(xù)發(fā)展，這也需要非常多的技巧和耐心。復雜且相互關聯(lián)的主板系統(tǒng)和增插卡需要仔細拆解為更小的電路，每個子電路都將作為下一階段的目標進行改進，即使整個電路設計已經(jīng)完成。
隨著對帶寬需求的增加，PCIe Gen4已經(jīng)在各個市場中取代了上一代技術。與此相適應，開發(fā)人員對現(xiàn)行的電路設計進行不斷更新，交流有關走線、布線的建議和準則，以最大程度地減少串擾或解決因過孔位置不當導致的EMI問題。
這些開發(fā)人員往往是探路先鋒，他們持續(xù)所面臨的問題是確定潛在的信號衰減可能發(fā)生的位置和原因，以及究竟還存在多大的冗余。簡單地將一個插頭換為更實惠的品類、最后關頭因為力學原因或者供應鏈而導致的引線分配的微調(diào)、固件或硬件的升級，又或者是生產(chǎn)工藝的任何變化都可能是可怕的噩夢，因為解決這些問題需要花費額外的精力和時間來重新對線路板進行設計。
在主板上應用BIOS更新可以實現(xiàn)與NVMx SSD硬盤間的全速通訊，但也可能引起電氣物理層面上的變化。在固件升級期間，與主板連接且與CPU通信的交換機和計時器的配置可能會發(fā)生變化，在變化之后執(zhí)行“通道容限測試”可能會得到不同的測試結果。抖動限值的改進隨時可能發(fā)生，在綜合模擬工具中進行準確建模是在確定對PHY物理層實際產(chǎn)生影響之前的虛擬驗證的關鍵。然而，模擬并不是總能代表真實的情況，所以仍然必須執(zhí)行物理層面的測試。
低功耗的Gen3和Gen4配置常常被重新設置，以實現(xiàn)潛在的節(jié)能配置。即使在對電源電路進行微調(diào)時，也應該確保電源重新接通的步驟足夠快，以滿足連接建立時間的要求，因為僅僅是增加幾毫秒便可能導致形成一種需要重新驗證的新情況。
然而，在這些場景下，重新對線路設計進行驗證可能并不經(jīng)濟高效：事實上，對在物聯(lián)網(wǎng)/消費者應用中銷售且依舊使用PCIe Gen3連接的非關鍵性低成本產(chǎn)品進行微小的設計變更后重新花費時間進行實驗室驗證可能并不合理。
半導體企業(yè)需要遵循復雜的決策路徑，以便針對某設計變更根據(jù)經(jīng)驗作出是否進行新的驗證的判斷。判斷的標準源于風險和成本分析。
在此情況下使用到的測試儀器通常為誤碼率測試儀(BERT)和示波器。這些儀器也在不斷發(fā)展，以滿足每一代PCIe標準的要求，但根據(jù)用戶的經(jīng)驗，這些儀器的操作普遍比較有挑戰(zhàn)性。
泰克 BERTScope® 和 PatternPro® 系列提供各種信號調(diào)節(jié)以及 1 至 4 通道 1.5 Gb/s 至 40 Gb/s 的 BER 分析，并可以對業(yè)內(nèi)廣泛的串行通信誤碼率測試儀產(chǎn)品組合進行測試和測量。
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BERTScope 系列可滿足要求精確抖動容限測試、深層損傷測試和深入分析(包括抖動分隔和 PCI Express 測試或 USB 一致性測試)的設計的嚴格要求。通過信號調(diào)整和時鐘恢復產(chǎn)品來補充誤碼率分析儀的功能，如下所示：
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通過增加數(shù)量可控的預加重與誤碼率分析儀結合使用，調(diào)節(jié)測試碼型信號。
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